РОЖА́НСЬКИЙ Дмитро Апол­лінарі­йович (20. 08(01. 09). 1882, Київ — 27. 09. 1936, Ленін­град, нині Санкт-Петербург) — фізик. Брат М. Рожанського. Член-кореспондент АН СРСР (1933). Дійсний член НТШ (1929). Закінчив Санкт-Петербурзький університет (1904), де був залишений для здобу­т­тя професорського зва­н­ня. 1911 захистив дисертацію на ступінь магістра фізики «Влияние искры на колебательный разряд конденсатора». 1911–12 — приват-доцент, 1912–14 — професор, 1914–21 — завідувач кафедри фізики Харківського університету; 1921–23 — у Нижньогородській радіотехнічній лабораторії (РФ); 1923–36 — завідувач кафедри технічної електроніки Ленін­градського політехнічного ін­ституту; водночас 1921–28 — керівник Харківської науково-дослідної кафедри фізики; 1935–36 — завідувач лабораторії з про­блеми радіовиявле­н­ня літаків Ленін­градського фізико-технічного ін­ституту. Від 5 жовтня 1930 до 26 липня 1931 за наклепницькою справою пере­бував під слідством в увʼязнен­ні. Ви­вчав електричні роз­ряди в газах, виконав фундаментальні роботи про вплив іскри на форму та період роз­ряду і на форму резонансної кривої; за­пропонував метод осцило­графува­н­ня швидких електричних процесів із за­стосува­н­ням трубки Брауна та метод роз­рахунку ви­промінюва­н­ня антен («метод наведених ерс»); досліджував лампові генератори, характеристики ламп, виконував проєктува­н­ня антен­них при­строїв, за­пропонував метод наведених електрорухаючих сил для роз­рахунку антен­них систем; роз­робив спосіб вимірюва­н­ня ді­електричної по­стійної при надвисоких частотах; керував роботами зі створе­н­ня перших короткохвильових пере­давачів, щодо стабілізації частоти лампових генераторів і дослідже­н­ня пошире­н­ня коротких хвиль. Дослідже­н­ня Р. та його учнів сприяли створен­ню магнетронів дециметрового діапазону, а роботи з радіолокації, що проводили під його керівництвом, завершилися роз­робле­н­ням перших радянських імпульсних радіолокаторів далекого виявле­н­ня літаків. Екс­периментально ви­вчив дис­персію й абсорбцію дециметрових хвиль у спиртах; роз­робив методику для вимірюва­н­ня ємності поверх­невих шарів і опору кри­сталів у рамках ви­вче­н­ня явища поляризації в кри­сталах.