Михайлов Ігор Федорович
МИХА́ЙЛОВ Ігор Федорович (29. 03. 1949, Харків) — фізик. Канд. тех. (1975), д-р фіз.-мат. (1989) н. Закін. Харків. політех. інститут (1972), де від 1975 й працює (нині Нац. тех. університет «Харків. політех. інститут»): 1989–91 — провідний науковий співробітник, від 1991 — гол. н. с. каф. фізики металів і напівпровідників. Осн. наук. дослідж. у галузі рентґенів. аналізу твердого тіла. Автор рентґенофлюоресцент. аналізатора «СПРУТ».
Додаткові відомості
- Основні праці
- Методика анализа упругой и пластической деформации в системе пленка-подложка // Завод. лаб. 1988. Т. 32, № 6 (співавт.); Determination of Roughness Spectrum of Polished Surfaces by Measuring X-Ray Scattering // Optical and Acoustical Review. 1990. Vol. 1, № 2 (співавт.); Stoichiometric Defects and Volume Diffusion in Epitaxial PbTe-SnTe multilayers // Crystal Research and Technology. 1994. Vol. 29, № 2 (співавт.); In situ X-ray Investigations of Thin Film Growth // Thin Solid Films. 1998. Vol. 324(1–2) (співавт.); Рентгенівські методи аналізу складу матеріалів. Х., 2015; Perspectives for Developing X-Ray Analysis of Materials Content // Functional Materials. 2016. Vol. 1.
Завантажити статтю
Людина 
