Михайловський Ігор Михайлович

МИХАЙЛО́ВСЬКИЙ Ігор Михайлович (06. 12. 1939, Житомир — 17. 11. 2021, Харків) — фізик. Доктор фізико-математичних наук (1986), професор (1996). Закінчив Одеський університет (1961). Від 1963 працював у ННЦ «Харківський фізико-технічний інститут» НАНУ: від 1987 — провідний науковий співробітник лабораторії фізики кристалів. Основні напрями наукових досліджень: атомна структура дефектів будови твердих тіл; фізика міцності та пластичності мікрокристалів і польова емісійна електроніка. Розробив низькотемпературні польові іонні мікроскопи та методи для дослідження на суб­атомному рівні різнення; встановив спектр головних елементів тонкої структури меж і потрійних стиків зерен; дослідив тонку структуру ядер дислокацій і дефектів укладення в металах; створив імпульсні та вибуховоемісійні сильнострумні джерела електронів і встановив механізм їх радіаційного пошкодження. Його вважають першим у світі, хто сфотографував атом (йдеться про фотофіксацію просторових конфігурацій атомних орбіталей, що відповідають квантовим станам атома на кінці вуглецевих атомних ланцюжків).

Пр.: Определение атомной конфигурации двойниковых границ в вольфраме методом полевой ионной микроскопии // ФТТ. 1982. Т. 24; Полевая эмиссионная микроскопия сплава ZrTiCuNiBe // МНТ. 1998. Т. 20 (спів­авт.); Високорозрізнювальна польова електронна мікроскопія: спостереження атомних орбіталей // Вісник НАН України. 2010. № 1 (співавт.); Nanometer-scale heterogeneities of the structure of zirco­nium-based bulk metallic glasses // Metals. 2012. Vol. 2 (спів­авт.); The absolute upper limit of material strength and ways to reach it // Procedia Materials Science. 2014. Vol. 3 (спів­авт.); Special non-CSL grain boundaries in tungsten: Misorientation distribution and energetics // Materials Letters. 2015. Vol. 145 (спів­авт.); Yield strength temperature dependence of tung­sten nanosized crystals: experiment and simulation // Philosophical Magazine. 2016. Vol. 96 (спів­авт.).

В. І. Соколенко

Основні праці

Определение атомной конфигурации двойниковых границ в вольфраме методом полевой ионной микроскопии // ФТТ. 1982. Т. 24; Полевая эмиссионная микроскопия сплава ZrTiCuNiBe // МНТ. 1998. Т. 20 (спів­авт.); Високорозрізнювальна польова електронна мікроскопія: спостереження атомних орбіталей // Вісник НАН України. 2010. № 1 (співавт.); Nanometer-scale heterogeneities of the structure of zirco­nium-based bulk metallic glasses // Metals. 2012. Vol. 2 (спів­авт.); The absolute upper limit of material strength and ways to reach it // Procedia Materials Science. 2014. Vol. 3 (спів­авт.); Special non-CSL grain boundaries in tungsten: Misorientation distribution and energetics // Materials Letters. 2015. Vol. 145 (спів­авт.); Yield strength temperature dependence of tung­sten nanosized crystals: experiment and simulation // Philosophical Magazine. 2016. Vol. 96 (спів­авт.).

завантажити статтю