Метрологія та прилади

«МЕТРОЛО́ГІЯ ТА ПРИ́ЛАДИ»  — науково-практичний журнал. Заснований 2006 Харківським університетом радіо­електроніки, державним під­приємством «Укрметртест­стандарт», Академією метрології України та ТОВ «ФАВОР ЛТД». До 2020 видавали 6 разів на рік. 2021 на­друковано лише 1 номер. 2022—23 не видавали. 2024 вихід журналу від­новлено. Від­тоді його друкують двічі на рік, видавцем є Харківський університет радіо­електроніки. Тематичні напрями: теоретична метрологія (роз­робле­н­ня методів вимірювань та ви­пробувань, засобів вимірювальної техніки, теорія оцінюва­н­ня точності, неви­значеностей вимірювань); прикладна метрологія (метрологічне забезпече­н­ня калібрувальних робіт, метрологічне забезпече­н­ня вимірювань на виробництві, обробле­н­ня результатів та оцінюва­н­ня неви­значеностей вимірювань при ви­пробува­н­нях, калібрува­н­нях, звіре­н­нях, організація та проведе­н­ня між­лабораторних порівняльних ви­пробувань, обробле­н­ня їх результатів); законодавча метрологія, стандартизація, удосконале­н­ня нормативної бази оцінюва­н­ня неви­значеності вимірювань, валідація методик ви­пробувань та калібрува­н­ня, акредитація; інформаційно-вимірювальні технології (інформаційно-вимірювальні системи, теоретичні аспекти та практика впровадже­н­ня інформаційно-вимірювальних технологій в Industry 4.0, автоматизація процесу обробле­н­ня результатів та оцінюва­н­ня неви­значеності у вимірюва­н­нях; metrology cloud); кваліметрія; оцінюва­н­ня від­повід­ності продукції, послуг та про­грамного забезпече­н­ня; управлі­н­ня якістю; особливості на­вча­н­ня пита­н­ням метрології та інформаційно-вимірювальних технологій. Головні редактори: В. Фісун (2006—17), Є. Володарський (2018—20), В. Большаков (2021), І. Захаров (від 2024).

Завантажити статтю