Низкова Ганна Іванівна
НИЗКО́ВА Ганна Іванівна (17. 02. 1950, Київ) — фахівець у галузі рентґенної дифрактометрії. Доктор фізико-математичних наук (2005), професор (2008). Закін. Київський університет (1972). Працювала 1972–89 в Інституті напівпровідників АН УРСР; від 1989 — в Інституті металофізики НАНУ (обидва — Київ): від 2006 — провідний науковий співробітник Розробляє методи, що використовують дифракцію рентґен. променів для дослідж. дефект. структури монокристалів.
Додаткові відомості
- Основні праці
- Дифрактометрия наноразмерных дефектов и гетерослоев кристаллов. К., 2005; Эффект асимметрии азимутальной зависимости интегральной интенсивности дифракции Брэгга в монокристаллах с дефектами // МНТ. 2006. № 8; Основы динамической высокоразрешающей дифрактометрии функциональных материалов. Нальчик, 2013; Основы интегральной многопараметрической диффузнодинамической дифрактометрии. Нальчик, 2013; Физическая природа и новые возможности использования эффектов асимметрии азимутальной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции для диагностики кристаллов с нарушенным поверхностным слоем и дефектами // Успехи физики металлов. 2017. Т. 18, № 2 (усі — співавт.).
